基于小角X射线散射技术测定淀粉结构研究进展

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摘要：小角X射线散射技术在食品领域是一门重要技术，它可以测试薄膜、块体、粉体、液体、流体等样品的结构特征而不改变其形态。文章浅析了小角X射线散射原理，阐述了其在淀粉结构中的应用，通过对数据拟合和分析以及相关参数表征淀粉粒子形状、平均界面层厚度、分形维数等方面的研究进展进行综述，以期为采用小角X射线散射技术测定其他食品结构提供理论依据及参考。（剩余12371字）

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