数字集成电路测试系统综述

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摘要：文章深入分析数字集成电路测试系统应用现状，首先针对数字集成电路测试系统的主要组成部分及其功能进行描述；随后阐述数字集成电路检测的理论方法，其中围绕集成电路直流参数测试以及功能测试进行重点描述。直流参数测试进一步划分为接触性测试、漏电电流以及集成电路输出功耗测试等部分；最后，探讨了数字集成电路测试系统的实际应用状况和当前的使用情况，并对其未来发展趋势进行了预测。（剩余5288字）

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