DDR4物理层一致性测试中的信号完整性问题分析与方法优化

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摘要：确保DDR4 SDRAM在高速率（最高3 200 MT/s） 下的信号完整性与系统稳定性，文章提出并验证了一套系统化的物理层一致性测试方法。文章针对测试中的典型失效案例——地址线过冲问题进行了深入分析，通过对测试探头选择、PCB布局、驱动设置等关键因素的系统性研究，揭示了其物理根源，并提出了有效的优化策略。（剩余4624字）

试读结束

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