扫描电子显微镜对于表面截面同时需求类样品的测试方案研究

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摘 要：本文针对在扫描电子显微镜测试中具备表面和截面双重需求，同时属于块体或薄膜状、需避免损坏的弱导电性样品提供一种简单而高效的测试方案。该方案可以减少金属喷涂的次数和资源损耗，并有效地防止在样品制备和测试过程中对样品造成损害。通过这一方案，我们旨在提高测试的效率和准确性，为扫描电子显微镜分析提供更为可靠的样品测试方法。（剩余3849字）

试读结束

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