国产化背景下车规级芯片环境可靠性试验标准研究

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摘 要：随着汽车芯片短缺情况持续加剧，2021年全球汽车总计减产810.7万辆，因疫情“黑天鹅”因素及芯片产业自身的长周期性，汽车芯片短缺问题在短时间内难以消除。在“新四化”浪潮下，汽车产业的芯片需求会进一步扩大，汽车芯片短缺将进一步加剧。车规级芯片技术突破与产业化发展成为根本的解决办法，本文从现有汽车电子产品的环境可靠性试验标准与国外的相应标准两个方向进行对比研究，为国产化下的车规级芯片环境可靠性试验体系建设提供借鉴。（剩余4568字）

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