基于加速退化试验的脉宽调制器贮存寿命预测研究

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摘  要： 脉宽调制器作为开关电源的核心器件，已广泛应用于航天器中，但其贮存寿命会影响电源系统的可靠性，进而影响航天器任务执行的成败。在寿命评估中，加速退化试验是常用的试验方法，其中激活能值是预测器件贮存寿命的关键，但目前相关标准只有器件激活能值的参考范围，缺乏试验相关条件设置的详细描述，这会影响寿命评估的精度。（剩余9572字）

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