基于EMR与VeE_peak组合电参数的IGBT模块封装老化监测

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摘 要：该文提出一种基于电磁辐射干扰（EMR）与VeE_peak组合电参数监测IGBT模块封装老化的方法，旨在监测多种老化同时发生时IGBT模块的健康状态。首先，分析VeE_peak和EMR的产生机理以及模块内部寄生参数对VeE和EMR的影响；其次，分析不同老化对IGBT模块内部寄生参数的影响；最后，结合实验结果证明所提方法的正确性。（剩余13864字）

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