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摘要:随着现代电子技术的飞速发展,系统级芯片(System on a Chip,SOC)已成为各种电子系统中的核心组件。作为一种高度集成的电路,SOC实现了许多原本需要大量独立组件才能实现的功能。在传统的电子系统中,电路的设计和制造通常是由不同的团队独立完成的,这种分离的操作方式导致了很多问题,如测试成本高、测试时间长等。(剩余5070字)
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SOC可测性设计的优化理论研究
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