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摘 要:对智慧电视主板进行了极限工作温度摸底,得到主板的极限工作温度。采用热成像技术在常温和高温下对主板进行了温度场分析,发现主板的热薄弱环节是因高温老化造成背光电源开关MOS失效。根据上述结果,基于加速寿命试验原理,采用Arrhenius模型得到加速寿命试验的加速因子。通过对主板进行温度加速试验并收集失效数据,对失效数据进行分析,建立了失效分布模型。(剩余6338字)
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智慧电视主板失效分布及可靠性评估研究
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