基于SIP的FPGA驱动电压补偿测试研究

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摘  要： 在基于SIP的现场可编程门阵列（FPGA）性能参数验证测试时，驱动电压测试会受到多种因素的影响，如PCB线阻、插座信号损耗以及测试温度等，这些因素导致ATE测试的实测值与真实值之间存在偏差。为了提高驱动电压的测试精度，提出一种基于卷积神经网络（CNN）与长短时记忆（LSTM）网络的误差补偿方法。（剩余6629字）

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