基于Smooth-DETR的产品表面小尺寸缺陷检测算法

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摘要：为应对实际工业产品视觉质量检测中缺陷罕见、尺寸小等挑战，提出了一种仅需要少量训练样本的小尺寸缺陷检测算法——Smooth-DETR，该算法采用基于DETR的编码—解码结构对缺陷类别和位置进行预测，该结构降低了参数量和计算复杂度。因DETR强大的全局特征学习能力，该算法可从少量训练样本中充分挖掘产品表面纹理特征，从而对打破了表面纹理连续性的缺陷检出率高；通过结合Smooth-L1损失和GIoU损失的优势，进一步提升了小尺寸缺陷的回归精度。（剩余17141字）

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