基于小波变换的TFT-LCD屏Mura缺陷检测

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摘  要：为实现对TFT-LCD Mura缺陷的自动检测，针对Mura缺陷对比度低及背景亮度不均匀的特点，提出一种基于小波变换的Mura缺陷自动识别算法。首先，通过对CCD相机采集到的Mura缺陷图像进行图像预处理。接着，基于小波变换选择合适的小波函数，进行小波变换。然后，对小波变换后的细节图像进行处理分析，得到Mura缺陷的轮廓边缘。（剩余4712字）

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