基于STM32非接触物体尺寸形态测量系统的设计与实现

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关键词：STM32；openmv4；超声波测距；电源；舵机

中图分类号：TM938 文献标识码： A

文章编号：1009-3044（2023）14-0022-03

0 引言

工业的迅速发展与测量技术水平的提高是密不可分的，尤其是对机械工件的加工精度要求显得尤为重要，其测量技术的发展离不开科学技术的发展，纵观生产发展的历史，伴随着对加工精度要求的提高，测量技术也在不断地完善和发展。（剩余3450字）

试读结束

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