基于SOPC技术的芯片批量测试板设计与实现

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摘  要：为提高SoC芯片测试板效率及稳定性，考虑芯片测试需求和设计模块化等因素，采用可编程片上系统和上位机配置技术，充分利用FPGA开发板上的HSTC扩展接口，设计了一款面向多芯片同步测试的批量测试板，有效解决了芯片批量测试中的难题，实现效率与性能的双优。主要阐述了该测试板的上位机控制方法、嵌入式控制系统的功能组成以及片上测试程序的设计流程。（剩余6595字）

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