非晶硅TFT强光稳定性的研究及改善

  • 打印
  • 收藏
收藏成功


打开文本图片集

摘  要:随着显示产业的迅猛发展,大尺寸、宽色域、高动态范围(HDR)和高亮度给薄膜晶体管(TFT)面板带来了更大的挑战。经过测试,在40 000 nit高亮度背光照明下,经过500小时照明,面板的充电能力衰减幅度高达13%。其机理与TFT结构密切相关,如栅极的功函数和栅极绝缘层(GI)的光学带隙(Eg)。(剩余6939字)

目录
monitor