基于KNN⁃XGBOOST堆叠模型在PCB RFID天线阻抗预测的研究

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摘  要： 针对传统的天线仿真建模过程中需要的天线阻抗耗时长问题，文中提出一种基于KNN⁃XGBOOST模型的天线阻抗预测方法。现有研究大多为单一预测算法，旨在通过对比寻求预测效果更优的算法。首先通过ANSYS仿真软件收集大量的PCB RFID天线阻抗设计数据，然后结合影响阻抗中天线长度和频率共8个有效特征，以KNN和XGBOOST两种算法作为基模型，线性回归作为元模型，构建了一个堆叠集成学习模型。（剩余11927字）

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