某星载二次电源耳片损伤原因分析及改进措施

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摘  要：根据产品设计规范、产品生产过程记录材料以及试验相关资料，对某星载二次电源研制过程中，冲击试验时耳片损伤问题进行了原因分析。探究了冲击试验时耳片损伤的机理，提出了增加耳片数量的改进措施，并通过理论分析与试验对改进措施进行了验证。分析结果表明改进措施有效，明显提高了耳片设计裕度。试验结果表明，试验后试验件耳片无损伤，增加耳片数量解决了冲击试验时耳片损伤的问题。（剩余6075字）

试读结束

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