基于正交算法的车规级芯片耦合故障研究

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摘  要：从汽车芯片信息安全角度出发，由于汽车安全芯片工作主要受环境中的电磁、电压和光的影响，在阐明了电磁、电压和光对安全芯片的影响原理的基础上，综合考虑影响芯片工作的三种因素和因素间的相互作用，提出了多维组合的车规级安全芯片故障注入测试技术。以典型安全芯片为例，对其进行电磁操纵、电压操纵、光注入以及三者的组合注入，比较故障注入前后安全芯片加密解密得到的密文或明文，从而能够得出安全芯片的安全性结论。（剩余5995字）

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