基于TDDB的数字隔离器寿命测试系统

  • 打印
  • 收藏
收藏成功
微博 QQ空间 微信


打开文本图片集

摘  要： 为评估数字隔离器在长期使用过程中的稳定性和寿命，提出一种基于经时击穿（TDDB）的寿命测试系统，通过自动化和多路并行测试来提升测试效率。具体方法包括设计一个支持16路同时进行测试的系统，使用DSP控制程序和上位机软件进行数据处理，并通过增加电压应力来加速老化测试。实验结果表明：该系统能够在检测到失效时立即终止测试，并自动记录失效时间；同时通过模拟工作电压环境，提高了测试结果的可靠性。（剩余9303字）

试读结束

目录
monitor