复杂背景下的多晶硅太阳电池缺陷检测

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摘 要：提出并设计名为OD-YOLO缺陷检测模型来改善多晶硅太阳电池电致发光成像中复杂背景干扰缺陷检测效果的问题。使用二次卷积模块（TwiceConv-OD）过滤掉复杂晶粒背景干扰，增强模型对缺陷本身的关注力；提出anchor-plus1分配策略来增加模型在面对复杂背景时获取更多的缺陷正样本数量，提升模型的准确率与召回率，减少漏检误检；使用K-means++算法初始化锚框尺寸，聚类后的锚框更能代表检测样本中所有缺陷的几何形貌，能更好适应多晶硅太阳电池的缺陷尺度差异。（剩余16977字）

试读结束

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