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摘 要:文章研究了电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)法测定钨铁中锰含量的可行性。针对元素谱线、称样量、试样消解和谱线干扰影响因素进行了条件试验。从实验结果得出,选取257.611nm锰元素谱线,钨基体和高纯铁打底配制系列工作曲线,ICP分析钨铁标准物质,分析结果与标准值之差在允差内,11组数据的相对标准偏差RSD≤1.50%。(剩余4123字)
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ICP-OES法测定钨铁中锰含量
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