Gamma-深度高斯过程耦合建模的多层聚合物铝电容动态可靠性评估
摘 要：针对高温高频工况下多层聚合物铝电容可靠性评估的挑战，构建一种融合Gamma多参数退化模型与深度高斯过程（Deep Gaussian Process， DGP）的动态预测框架。通过循环充放电实验量化发现：温度、功耗、等效串联电阻及漏电流对容量退化的耦合影响占比超90%。在创新构建的混合模型中，Gamma过程精准刻画单调退化路径，DGP则通过变分推断与k-means++诱导点机制解析多应力非线性交互效应；二者通过动态耦合机制实时调整Gamma参数，实现失效阈值（80%容值）下的可靠度与故障率函数更新。（剩余14055字）
