高精度ADC测试研究

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摘要:数字信号处理技术飞速发展,系统分辨率不断提高,对高精度、高性能的ADC芯片需求愈发迫切。性能的提高使得对ADC的全面测试也越发困难。文章针对一款16位8通道高精度ADC,从器件原理分析、模拟输入端设计、相干采样计算方面进行分析。基于Ultra Flex自动测试平台,本研究完成了对该芯片较为全面的测试评估,取得了较为理想的结果。(剩余5184字)

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