基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化

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摘  要： 利用集成电路自动测试设备（ATE）测试高速DAC射频参数时，由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因，导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此，文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法；其次为解决上述问题，对测试码的生成以及PCB的布局等进行一系列改进，并将改进前后的测试值与典型值进行对比。（剩余6382字）

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