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摘 要：为探究碳化硅功率器件抗辐照损伤能力和辐射效应机制，基于LabVIEW软件开发平台，利用Keithley公司的2410高压源表、USB-GPIB接口适配器等设备，针对两款商用碳化硅功率二极管，建立了一套辐射效应测试系统。系统在集成了Keithley 2410高压源表功能面板模拟仿真实时控制和信息同步显示的基础上，还实现了电压和电流数据的实时采集、图像化的I-V和Ｉ-t特性曲线显示及存储等功能。（剩余8124字）
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碳化硅功率二极管辐射效应测试系统的开发
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