基于深度学习的转向间隙影响转角控制的优化方法研究

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开放科学（资源服务）标识码（OSID）：DOI：10.16661/j.cnki.1672-3791.2312-5042-5459

作者简介：崔国良（1993—），男，硕士，研究方向为车辆电子与控制技术。

摘 要：自研底盘的靶车受制造工艺影响，转向机构间隙不可避免，方向盘虚位过大，无法精确控制前轮按预期角度行驶，跟踪轨迹表征为“S”型。（剩余2167字）

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