基于FPGA的智能测试系统硬件设计与实现研究

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【关键词】FPGA硬件设计；测试系统；多通道

引言

当前电子系统复杂度激增，传统测试设备受限于串行处理架构和固定硬件结构，面临多通道实时处理能力不足、设备适应性差等挑战。FPGA凭借硬件并行性、丰富I/O资源及动态重构特性，为智能测试系统提供了理想平台[1]。已有研究表明：其并行处理机制可解决多通道同步采集问题；可编程接口能适配不同电气标准；动态重构技术可实现单硬件平台多功能集成（如西安电子科技大学验证的16种仪器集成）[2]。（剩余4174字）

试读结束

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