退火处理对CVD生长石墨烯薄膜功函数的影响

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DOI: 10.3969/j.issn.1671-7775.2024.03.016

开放科学(资源服务)标识码(OSID):

摘要: 通过退火处理去除了石墨烯薄膜上的吸附气体和杂质,改变了石墨烯表面吸附情况.利用原子力显微镜和开尔文扫描探针显微镜,对退火处理前后的石墨烯薄膜表面进行了原位扫描,分别(剩余9307字)

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