基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究

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摘 要：

在电子电路服役过程中，元器件退化会引起电路输出特性变化，降低电子电路的可靠性。漏电信号调理电路作为一种电子电路，其可靠性直接决定了漏电断路器的可靠性。以漏电信号调理电路为研究对象，首先基于灵敏度分析方法确定影响电路性能退化的关键元器件，并对漏电信号调理电路进行了以温度为加速应力、动作电流值为退化特征量的恒定应力加速退化试验；其次根据不同温度应力下的试验数据建立基于Wiener过程的漏电信号调理电路性能退化模型，并利用极大似然估计法求取退化模型的未知参数，进而得出寿命预测的概率密度函数和可靠度函数；最后利用阿伦尼斯（Arrhenius）方程外推出正常应力下漏电信号调理电路的预测寿命。（剩余11789字）