面向水稻穗上谷粒原位计数与遮挡还原的轻量级I2I 深度学习方法

  • 打印
  • 收藏
收藏成功
微博 QQ空间 微信


打开文本图片集

摘要： 【目的】为解决传统水稻考种机谷粒表型分析算法在功能和效率上的局限性，针对穗上谷粒原位计数和被遮挡谷粒几何特征还原设计一种基于深度学习的轻量级通用算法框架。【方法】将穗上谷粒原位计数与被遮挡谷粒还原这2 个复杂任务分别拆解为2 个阶段，将其核心阶段建模为I2I 问题。基于MobileNet V3 设计1 种能够解决I2I 问题的轻量级网络架构，并针对2 个任务的特点分别设计了数据集图像制作方法，选择合适的优化策略和超参数对其进行训练。（剩余2245字）

试读结束

目录
monitor