基于石墨烯材料表征的原子力显微分析测试条件探究

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摘 要： 原子力显微镜（AFM）是石墨烯材料结构形貌表征最常用的仪器，但AFM 测试条件的选择和控制对于能否真实地反映石墨烯材料的结构形貌信息起着决定作用，由此对利用AFM 用于石墨烯材料的厚度和粗糙度的测试条件进行研究。探究石墨烯材料厚度测量过程中的基底以及测量模式，并对自制的石墨烯单晶晶圆和氧化石墨烯（GO）纳米片的粗糙度测量过程中的探针类型进行探究。（剩余1919字）

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