基于GRU 神经网络的电动汽车IGBT 模块剩余寿命预测研究

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摘 要： 为获取老旧电动汽车中拆解的绝缘栅双极型晶体管（IGBT） 模块在再制造时的剩余寿命，提出经典循环神经网络的变体，即GRU 神经网络的IGBT 模块剩余寿命预测模型。分析IGBT 模块的内部结构及老化失效机理，明确老化失效的具体形式，结合IGBT 模块功率循环试验的老化数据，确定通态饱和压降作为模块老化失效特征量。（剩余1967字）

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