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我国科学家在量子精密测量领域获重要进展,有望为当前10纳米以下芯片中的缺陷检测提供一种强有力的技术手段。国际学术期刊《自然·光子学》(Nature Photonics)1月5日在线发表了这一进展。
最近20多年时间里,量子传感的发展已经使得很多物理量的测量技术取得了革命性的进展。以磁测量为例,当前实现结构解析的量子传感范式需要对标记的自旋探测目标进行量子操控,然而自然界中的很多物理现象无法直接操控。(剩余325字)
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我国在量子精密测量领域获重要进展
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