快速扫描的开关量信号边界测试方案设计

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【关键词】开关量；边界测试；边界扫描技术；数据采集

引言

测试是所有电子设备和集成电路板的制造中不可或缺的一部分[1]。随着大规模集成电路的发展和印刷电路工艺的进步，传统的测试方式已经无法全面适应如今的发展[2]，市场急需一种可以快速测试的技术。本方案就是针对这一问题所提出的一种快速扫描开关量边界的测试技术，它主要通过在电路边界设置特殊的寄存器或者设备（信号发射器、数据采集器等），实现对电路内部信号的监控和采集[3]。（剩余2608字）

试读结束

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