正畸支抗钉中微量有害元素的SEM-EDS识别与ICP-MS定量研究

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摘要：试验采用扫描电子显微镜-能量色散X射线光谱仪（Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectroscopy，SEM-EDS）与电感耦合等离子体质谱法（Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry，ICP-MS），对口腔正畸治疗中常用的支抗钉进行有害元素的定性识别与定量分析。（剩余4824字）

试读结束

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