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中图分类号:TN30 文献标志码:A
随着科技飞速发展,半导体器件在电子设备中广泛应用,其可靠性和安全性备受关注。半导体控制线路作为关键部分,其稳定性直接影响系统运行。短路故障常见且原因多样,例如老化、设计缺陷、环境影响等,会导致电流异常变大,损坏半导体器件。因此,准确、快速检测半导体控制线路短路故障对保障设备运行、提高系统可靠性至关重要。(剩余4529字)
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半导体控制线路短路故障检测技术研究
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