基于ATE的通用源表程控系统设计与验证

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摘要：当ATE机台进行集成电路测试时，系统会存在芯片的电参数测试条件超出ATE机台配置板卡资源的情况。因此，文章利用通用源表具备高性能测试指标的特点，设计基于ATE机台的通用源表程控系统。系统与ATE机台只须通过简单连接且无须编写复杂程控指令便可实现程控。系统可动态更改外接源表的功能配置与参数测试项顺序，辅助ATE机台完成连续自动测试。（剩余5324字）

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