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【摘 要】汽车遥控钥匙在使用时,静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)产生的脉冲电流容易对遥控钥匙内部芯片造成破坏,降低钥匙使用寿命,但目前ESD对钥匙芯片的失效机理以及后续的优化方案研究较少,从而导致遥控钥匙使用过程中极大影响了客户的使用体验。本文以汽车遥控钥匙为研究对象,通过试验分析钥匙静电失效形式,针对遥控钥匙静电失效问题研究了解决方案。(剩余3808字)
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汽车遥控钥匙ESD耐压能力优化分析
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