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摘要:为了解决用于某机电产品包装的瓦楞纸箱易爆开现象,提出了单因素法,对封箱脱开原因进行了封箱胶机、封箱带、纸箱尺寸等关键因素的逐步计算与理论分析,并且结合国家纸箱标准测试了其初粘性和持粘性。结果表明,纸箱尺寸因素是导致纸箱包装易脱封的主要原因。基于最优纸箱结构设计原则,对纸箱厚度和尺寸进行了重新设计,优化方案经过测试可实现标准条件下不脱封,为纸箱的优化设计提供了新的实践指导。(剩余4184字)
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基于单因素法的纸箱脱封分析及优化研究
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