基于光耦的缺相检测电路优化设计

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当前的三相用电设备在使用中都会辅以缺相检测电路[1，以确保用电安全及设备保护。常用的缺相检测多以变压器和光耦实现三相输入与检测信号的隔离。基于变压器的缺相检测尽管电路简单、使用可靠，但变压器的体积重量大、成本高，因此对于当前小型化、高集成度的应用设备并不适用。而当前应用的光耦缺相检测2尽管取代了体积重量大的变压器，但其电路很少涉及三相四线制应用的情况，因此当前的光耦缺相检测电路应用也受到了限制。（剩余3311字）

试读结束

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