面向光芯片测试的ATE数据存储传输系统的设计

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文章编号：1005-5630（2024）05-0031-09 DOI：10.3969/j.issn.1005-5630.202310260120

摘要：光芯片是在光纤系统中实现光电信号转换的重要器件，因此在生产制造完成后需要经过大量测试。集成电路自动测试设备（auto test equipment，ATE）是现今芯片测试中所使用的主要设备，在对光芯片测试时有自动化程度高、精度高、测试范围广、速度快等优势。（剩余10514字）

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