光学元件微缺陷偏振检测的图像处理方法研究

  • 打印
  • 收藏
收藏成功
微博 QQ空间 微信


打开文本图片集

文章编号：1005-5630（2024）05-0024-07 DOI：10.3969/j.issn.1005-5630.202305100093

摘要：光学元件表面缺陷会严重影响到光学系统的性能指标。现有的光学元件表面缺陷检测技术存在检测速度慢，精度低等问题。基于光学元件微缺陷偏振检测技术，研究了缺陷偏振成像的数字图像处理方法。（剩余7570字）

试读结束

目录
monitor