钨镍共掺杂 V2O5薄膜的光电特性研究

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摘要：利用溶胶–凝胶旋涂法和后退火工艺在FTO 导电玻璃上制备了钨镍共掺杂 V2O5薄膜，研究了薄膜在不同温度和不同偏压下的光电特性和相变特性。利用 X射线衍射仪（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）和 X 射线光电子能谱仪（XPS）测试了钨镍共掺杂 V2O5薄膜的晶体结构、表面形貌和组分，分析了不同钨镍共掺杂浓度对 V2O5薄膜相变光电特性的影响。（剩余12447字）

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