用于电晕检测的日盲紫外光学系统设计

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关键词：日盲紫外；光学设计；Zemax；公差分析

中图分类号：TN 23 文献标志码：A

引言

当带电体表面的电场强度高于其附近气体介质的游离强度时，介质分子会被激发、电离，出现一种自持放电现象，俗称电晕放电，常发生在高压、特高压输电线路中[1]。电晕放电过程中产生的高频电磁波会对附近的无线信号造成干扰，长期放电会造成电力系统巨大的能量损耗，对电站设备与输电线路的绝缘性造成严重的损害。（剩余4501字）

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