基于BP神经网络的RC框架结构主余震易损性分析

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中图分类号:P315.92 文献标识码:A 文章编号:1000-0666(2025)03-0496-11

doi:10.20015/j.cnki.ISSN1000-0666.2025.0052

0 引言

一次强烈地震后,往往伴随一系列余震(Ruiz-Garcia,2012;Yin,Li,2011)。(剩余15225字)

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