LK8820测试机在集成电路数字芯片测试中的应用

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摘要：为验证LK8820测试机在集成电路数字芯片测试中的性能优势，基于既有的硬件架构与控制系统，围绕可编程逻辑门阵列（field programmable gate array，FPGA）和数字信号处理器（digital signal processor，DSP）构建多通道并行测试方案，并对测试流程与数据处理机制进行优化设计。（剩余4496字）

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