基于X光图像的继电器簧片间距检测方法

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摘  要：针对磁保持继电器中的簧片在经过高强度测试后会发生形变，而形变量的检测较为困难的问题。提出了一种针对簧片X光片图像的处理方法。首先对X光片图像进行灰度提取，以减少图像的数据处理量；再通过图像模式匹配精准定位，以截取出目标簧片所在位置的图像区域；最后通过轮廓提取，获取到较为精准的簧片轮廓曲线，此曲线中包含有簧片轮廓的像素点坐标信息，直接计算两曲线的像素点坐标距离，就可得到两簧片间的最短距离，即所要检测的簧片形变量。（剩余3567字）

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