基于紫外和红外光谱联合的低零值绝缘子状态监测技术研究

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摘 要： 单纯以紫外光谱监督的传统方法无法检测绝缘子内部杂质的含量和变化趋势。为此提出基于紫外和红外光谱联合的低零值绝缘子状态监测技术，分别利用紫外光谱成像原理采集低零值绝缘子图像，辅助红外光谱检测绝缘子内部杂质的含量和变化趋势，并将二者采集到的光谱进行配准，获取绝缘子紫外和红外联合光谱，提取低零值绝缘子的过热特征、闪络特征以及破损特征，并将提取的特征向量作为样本输入至SVM分类器中实施分类处理，以此达到对低零值绝缘子状态实时监测的目的。（剩余9560字）

试读结束

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