银合金带材中条带状缺陷的形成原因分析与消除

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摘要：采用化学成分分析（ICP-MS）、金相（OM）、扫描电子显微镜（SEM）及能谱分析（EDS）等手段研究了银合金带材中的条带状缺陷。通过分析银合金化学成分和金相试验结果，确认该缺陷仅存在于材料表面。结合银合金带材的生产加工过程以及条带状缺陷的微观形貌和化学成分，对该缺陷的形成机理进行了分析和讨论，针对该缺陷的形成原因，提出了相应的工艺改进方案，并按新工艺进行试生产。（剩余3694字）

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