封闭条件下温度对气隙放电影响的模拟研究

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摘 要：

气隙缺陷往往导致局部放电（PD）现象，局放的发展过程与放电条件密切相关，通过放电的宏观表征来分析判断放电条件，是实现绝缘条件评估的重要途径。以温度对气隙缺陷下局放过程的影响为例，通过建立温度条件对放电过程的参数控制模型，研究了不同温度对其微观发展过程的影响，得到了不同温度条件下的宏观表征。（剩余12455字）

试读结束

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